Elecbee LCR-T4 Mega328 M328 멀티미터 트랜지스터 테스터 다기능 커패시턴스 ESR 미터 MOS PNP NPN LCR(테스트 케이블 포함)

1. 하나의 주요 측정 작업, 자동 전원 끄기 지연. 차단 전류는 20nA에 불과하며 배터리 작동을 지원합니다.

2. 자동 감지 PNP 및 NPN 바이폴라 트랜지스터, N, P 채널 MOSFET, JFET FET, 다이오드, 두 개의 다이오드, 사이리스터, 저항, 커패시터, 인덕터. 자동 감지 핀 정의.

3. 바이폴라 트랜지스터의 전류 증폭 계수(B)와 이미터 접합의 턴온 전압(Uf)을 측정합니다. Darlington 트랜지스터 증폭 계수는 높은 임계 전압과 높은 전류로 식별할 수 있습니다.

4. 바이폴라 트랜지스터와 MOSFET의 내부 보호 다이오드를 감지하여 화면에 표시할 수 있습니다.

5. MOSFET의 문턱 전압과 게이트 커패시턴스를 측정합니다.

6. 두 개의 저항 측정을 지원하여 전위를 측정할 수 있습니다. 전위차계가 끝까지 조정되면 테스터는 핀의 중간과 끝을 구별할 수 없습니다.

7. 저항 측정 분해능은 0.1옴이며, 50M옴 측정의 최대값입니다.

8. 정전 용량 측정 범위는 25pf ~ 100mF(100000 UF)입니다. 최대 1pF의 분해능, 인덕턴스 측정 범위 0.01MH-20H, 그렇지 않으면 저항으로 표시되고 인덕터 DC 저항은 유럽 2100이 저항으로 표시되는 경우보다 높습니다.

9. 커패시터 등가 직렬 저항(ESR) 이상의 2UF, 분해능 0.01옴을 감지할 수 있습니다. 이 기능은 커패시터 성능을 감지하는 데 매우 중요합니다.

10. 올바른 방향으로 두 다이오드의 기호를 표시할 수 있으며 순방향 전압 강하도 표시합니다.

11. 정상보다 높은 다이오드 순방향 전압 강하 LED 감지. 이중 LED가 이중 다이오드로 감지되었습니다. 발광 다이오드의 동시 감지가 깜박입니다.

12. 각 테스트 시간은 약 2초이며, 큰 정전 용량 및 인덕턴스 측정에만 시간이 오래 걸립니다.

짧은 3개의 테스트 측면을 테스트로 전환하면 화면에 수정 단계가 표시됩니다. 교정 시간의 짧은 끝을 분리하라는 메시지가 표시되면 세 가지 테스트가 계속되고 시간이 지남에 따라 1-3피트 액세스 100nF 커패시터에 메시지가 표시되면 수정 커패시터 1uF 프로그램 후 배포에 대한 액세스가 자동으로 다음 단계로 들어갑니다. 재시작이 끝날 때까지 수정하면 수정이 완료됩니다.

명세서:
주요 매개변수 및 사용:

1. ATmega8, ATmega168 또는 ATmega328 마이크로컨트롤러 사용.

2. 2x16 문자 LCD 디스플레이 결과.

3. 원 버튼 작동, 자동 전원 차단.

4. 20nA에 불과한 셧다운 전류, 배터리 작동 지원.

5. 크리스탈이 없는 저가 버전, 자동 전원 꺼짐. 1.05k 버전의 소프트웨어 ATmega168 또는 ATmega328은 절전 모드에서 전력 소비를 줄이기 위해 측정하지 않을 때.

6. 자동 감지 PNP 및 NPN 바이폴라 트랜지스터, N, P 채널 MOSFET, JFET, 다이오드, 듀얼 다이오드, 사이리스터 SCR.

7. 핀 레이아웃을 자동으로 감지합니다.

8. 바이폴라 트랜지스터 측정의 이미터 접합의 임계 전압 및 전류 증폭 계수.

9. Darlington 트랜지스터를 통해 높은 임계 전압 및 고전류 증폭률 확인.

10. 바이폴라 트랜지스터 쌍, MOSFET 보호 다이오드 임계 전압 값 및 MOSFET의 게이트 커패시턴스를 테스트합니다.

12. 2개의 저항 측정을 지원하며 기호는 가장 높은 4개의 숫자와 단위를 표시합니다. 저항 기호의 양쪽 끝은 테스터 프로브 번호(1-3)에 연결된 것으로 표시됩니다. 따라서 전위도 측정할 수 있습니다. 전위차계가 끝까지 조정되면 테스터는 핀의 중간과 끝을 구별할 수 없습니다.

13. 저항 측정 분해능은 0.1옴이며, 가장 높은 측정값은 50M옴입니다.

14. 커패시터를 감지하고 측정할 수 있습니다. 최대 4개의 숫자와 단위. 값은 25pf(8MHz 클록, 50pF @ 1MHz 클록)에서 100mF 사이일 수 있습니다. 최대 1pF(@ 8MHz 클록)의 분해능.

15. 2UF 커패시터 등가 직렬 저항(ESR) 측정 정전 용량 값보다 클 수 있습니다. 0.01옴의 분해능과 2자리 숫자 디스플레이. 이 기능은 최소 16K 플래시 ATMEGA(ATmega168 또는 ATmega328)가 필요합니다.

16. 올바른 방향으로 두 다이오드의 기호를 표시할 수 있습니다. 또한 순방향 전압 강하가 표시됩니다.

17. 다이오드 순방향 전압 강하에 대한 LED 감지가 정상보다 훨씬 높습니다. 이중 LED가 이중 다이오드로 감지되었습니다.

18. 역항복전압이 4.5V 이하이면 제너다이오드(18)를 검출할 수 있다. 이것은 두 개의 다이오드로 나타나며 전압에 의해서만 결정될 수 있습니다. 다이오드 기호 주변의 프로브는 동일합니다. 이 경우 진정한 인식 다이오드 양극에 가까운 700mV 임계 전압을 사용할 수 있습니다!

19. 3개 이상의 다이오드 유형 부품 검사 시 다이오드 수 설정 실패는 다른 메시지입니다. 이것은 다이오드가 세 개의 프로브 모두와 적어도 하나의 다이오드에 연결된 경우에만 발생합니다. 이 경우 두 개의 프로브만 연결하고 하나씩 다시 측정을 시작해야 합니다.

20. 단일 다이오드 역 커패시턴스 값을 측정합니다. 베이스와 컬렉터 또는 이미 터를 연결하면 바이폴라 트랜지스터도 측정할 수 있습니다.

21. 풀 브리지 연결의 측정값을 찾아야 합니다.

22. 25pf보다 낮은 커패시터 값은 일반적으로 감지할 수 없지만 다이오드가 병렬로 연결되거나 최소 25pf 커패시터가 병렬로 연결됩니다. 이 경우 부분 션트 커패시턴스 값을 빼야 합니다.

23. 옴 저항은 최소 16K ATMEGA 플래시가 있는 경우 2100 미만의 인덕턴스를 측정합니다. 범위는 0: 01mH에서 20H이지만 정확도는 좋지 않습니다. 측정 결과는 단일 연결 요소만 나타냅니다.

24. 테스트 시간은 약 2초이며 커패시턴스 및 인덕턴스 측정만 더 오래 걸립니다.

25.소프트웨어는 이전 횟수를 측정하기 위해 전원을 자동으로 끄도록 설정할 수 있습니다.

26. 50Hz 신호의 선택 가능한 클록 주파수가 있는 내장형 자체 테스트 기능은 정확도를 확인하고 호출을 기다립니다(ATmega168 및 ATmega328).

27. 포트 출력(ATmega168 및 ATmega328)의 측정 장비 자체 테스트 기능의 옵션 저항 및 제로 오프셋 교정. 오프셋 전압의 핀 1과 3 사이의 아날로그 비교기를 보상하기 위해 연결된 100nF ~ 20uF 커패시터가 필요합니다. 이는 커패시터 위의 40uF 측정 오류를 줄일 수 있습니다. 동일한 내부 보정 커패시터 전압 기준 전압을 사용하여 내부 조정 기준 측정 ADC 이득에 대한 기준 전압을 찾습니다.

테스트 전류가 유지 전류를 초과하면 사이리스터와 트라이액을 감지할 수 있습니다. 그러나 반도체 SCR 및 트라이악 테스터보다 높은 전류가 트리거 전류를 제공할 수 있습니다. 사용 가능한 테스트 전류는 약 6mA에 불과합니다! 모든 기능은 ATmega168 이상으로 단일 칩 프로그램 메모리만 사용했습니다.