Elecbee LCR-T4Mega328M328マルチメータトランジスタテスター多機能静電容量ESRメータMOSPNPNPN LCR、テストケーブル付き

1.ワンキー測定操作、自動電源オフ遅延。 シャットダウン電流はわずか 20nA で、バッテリ動作をサポートします。

2. 自動検出 PNP および NPN バイポーラ トランジスタ、N、P チャネル MOSFET、JFET FET、ダイオード、2 つのダイオード、サイリスタ、抵抗器、コンデンサ、インダクタ。 自動検出ピンの定義。

3. バイポーラトランジスタの電流増幅率 (B) とエミッタ接合のターンオン電圧 (Uf) を測定します。 ダーリントン トランジスタの増幅率は、高いしきい値電圧と高い電流によって識別できます。

4.バイポーラトランジスタとMOSFETの内部保護ダイオードを検出し、画面に表示できます。

5. MOSFET のしきい値電圧とゲート容量を測定します。

6. 2 つの抵抗測定をサポートし、電位を測定できます。 ポテンショメータが端に調整されている場合、テスターはピンの中央と端を区別できません。

7. 抵抗測定分解能は 0.1 オームで、50M オーム測定の最大値です。

8.静電容量測定範囲は25pfから100mF（100000 UF）です。 最大 1 pF の分解能、インダクタンス測定範囲 0.01MH-20H、それ以外の場合は抵抗として表示されます。ヨーロッパ 2100 も抵抗として表示される場合よりもインダクタの DC 抵抗が高くなります。

9. コンデンサの等価直列抵抗 (ESR) を 2UF 上回る値を 0.01 オームの分解能で検出できます。 この機能は、コンデンサの性能を検出するために非常に重要です。

10. 2 つのダイオードの記号を右方向に表示でき、順方向電圧降下も表示します。

11. 通常よりも高いダイオード順方向電圧降下の LED 検出。 二重ダイオードとして検出された二重 LED。 発光ダイオードの同時検出は点滅します。

12. 各テストの時間は約 2 秒です。大きな静電容量とインダクタンスの測定だけに時間がかかります。

テストに短い 3 つのテスト側、画面は、修正手順を求めます。 キャリブレーション時間の短い端を切断するように求められた場合、3 つのテストが続行されます。1 ～ 3 フィートで 100nF コンデンサにアクセスするよう求められた場合は、1uF プログラムが自動的に次のステップに入ります。 修正を完了するには、再起動の最後まで修正します。

仕様:
主なパラメータと使用:

1. ATmega8、ATmega168 または ATmega328 マイクロコントローラを使用。

2. 2x16 文字の LCD 表示結果。

3.ワンボタン操作、自動電源オフ。

4. わずか 20nA のシャットダウン電流、バッテリ動作のサポート。

5. クリスタルなしの低価格バージョン、自動電源オフ。 1.05k バージョンのソフトウェア ATmega168 または ATmega328 のスリープ モードで、電力消費を削減するための測定がない場合。

6. 自動検出 PNP および NPN バイポーラ トランジスタ、N、P チャネル MOSFET、JFET、ダイオード、デュアル ダイオード、サイリスタ SCR。

7. ピン配列を自動検出。

8. バイポーラトランジスタ測定のエミッタ接合のしきい値電圧と電流増幅率。

9. 識別された高しきい値電圧と高電流増幅率によるダーリントン トランジスタ。

10. バイポーラ トランジスタのペア、MOSFET 保護ダイオード テストのしきい値電圧値と MOSFET のゲート容量が測定されます。

12. 2 つの抵抗測定をサポートし、記号は上位 4 つの数字と単位を示します。 抵抗記号の両端は、テスター プローブ番号 (1 ～ 3) に接続されています。 したがって、電位も測定することができます。 ポテンショメータが端に調整されている場合、テスターはピンの中央と端を区別できません。

13.抵抗測定分解能は0.1オームで、最高測定値は50Mオームです。

14. コンデンサを検出および測定できます。 最大 4 つの数字と単位。 値は 25pf (8MHz クロック、50pF @ 1MHz クロック) から 100mF までです。 最大 1 pF (@ 8MHz クロック) の分解能。

15. 2UF コンデンサの等価直列抵抗 (ESR) 測定容量値よりも大きい場合があります。 0.01 オームの分解能と 2 桁の数値表示。 この機能には、少なくとも 16K Flash ATMEGA (ATmega168 または ATmega328) が必要です。

16. 2 つのダイオードのシンボルを右方向に表示できます。 また、順方向電圧降下が表示されます。

17. ダイオードの順方向電圧降下に対する LED 検出は、通常よりもはるかに高くなっています。 二重ダイオードとして検出された二重 LED。

18. 逆方向ブレークダウン電圧が 4.5V 未満の場合、ツェナー ダイオード 18 を検出できます。 これは 2 つのダイオードとして表示され、電圧によってのみ決定できます。 プローブ周辺のダイオード シンボルは同じで、この場合、700mV の閾値電圧を真の認識ダイオード アノードに近づけることができます。

19. ダイオード タイプの部品が 3 つ以上ある場合は、別のメッセージでダイオードの数を確立できません。 これは、ダイオードが 3 つのプローブすべてと少なくとも 1 つのダイオードに接続されている場合にのみ発生します。 この場合、2 つのプローブのみを接続し、1 つずつ測定を再開する必要があります。

20. 1 つのダイオードの逆容量値を測定します。 ベースとコレクタまたはエミッタを接続すれば、バイポーラトランジスタも測定できます。

21. フルブリッジ接続の測定値を見つける必要があります。

22. 25pf 未満のコンデンサ値は通常検出できませんが、並列にダイオードを接続するか、少なくとも 25pf のコンデンサを並列に接続します。 この場合、部品のシャント容量値を差し引く必要があります。

23. 少なくとも 16K ATMEGA フラッシュがある場合、オーム抵抗は 2100 未満のインダクタンスを測定します。 0 からの範囲: 20H より 01mH ですが、精度は良くありません。 測定結果は、単一の接続要素のみを示しています。

24. テスト時間は約 2 秒です。静電容量とインダクタンスの測定だけに時間がかかります。

25.ソフトウェアは、測定回数前に自動的に電源をオフにするように設定できます。

26. 50Hz 信号の選択可能なクロック周波数を備えた内蔵セルフテスト機能は、精度をチェックし、呼び出しを待ちます (ATmega168 および ATmega328)。

27. オプションの抵抗および測定機器のゼロ オフセット キャリブレーション ポート出力のセルフテスト機能 (ATmega168 および ATmega328)。 オフセット電圧のピン 1 とピン 3 の間のアナログ コンパレータを補償するために、100nF から 20uF のコンデンサを接続する必要があります。 これにより、コンデンサを 40uF 上回る測定誤差を減らすことができます。 同じ内部キャリブレーション コンデンサ電圧基準電圧を使用して、内部調整基準測定 ADC ゲインが検出されます。

テスト電流が保持電流を超えると、サイリスタとトライアックを検出できます。 ただし、半導体 SCR およびトライアック テスターよりも高い電流は、トリガー電流を提供できます。 使用可能なテスト電流はわずか約 6mA です。 すべての関数は、ATmega168 としてシングル チップ プログラム メモリのみを使用していることに注意してください。